ASTM B 748-1990 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-16 21:47:42 浏览:8836
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasurementofThicknessofMetallicCoatingsbyMeasurementofCrossSectionwithaScanningElectronMicroscope
【原文标准名称】:用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
【标准号】:ASTMB748-1990
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:金属涂层;金属的;涂层;显微分析;电子显微镜;试验;测量技术;厚度
【英文主题词】:electronmicroscopes;thickness;microscopicanalysis;testing;measuringtechniques;metalcoatings;metallic;coatings
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_40
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
【标准号】:ASTMB748-1990
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1990
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:金属涂层;金属的;涂层;显微分析;电子显微镜;试验;测量技术;厚度
【英文主题词】:electronmicroscopes;thickness;microscopicanalysis;testing;measuringtechniques;metalcoatings;metallic;coatings
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:25_220_40
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
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